半导电屏蔽层测量夹具

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半导电屏蔽层测量夹具

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一、用途:

  配合半导体电阻测试仪使用,用来测量成品电缆内外半导电屏蔽层的电阻率。

二、执行标准

依据GB/T12706-2020/GB/T11017-2014标准设计制造, 

三、测量夹具特点及技术参数:

一、特点:

1.整体框架贰柱结构,移动平稳,夹持均匀。

2.移动夹持梯形丝杠压力轴承,转动平稳精确。

3.夹持采用凸凹结构,内置弹性压片,受力均衡。

4.绝缘部分材料绝缘电阻>1012Ω

5.四端接线方式,测量精确

6.外屏采用捆扎式电极,内屏采用半圆形嵌入式电极


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